A dislocation-based yield strength model for nano-indentation size effect

Ping Tao, Fei Ye, Jianming Gong, Richard A. Barrett, Seán B. Leen

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6 引用 （Scopus）

指纹

探究 'A dislocation-based yield strength model for nano-indentation size effect' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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